半導體環境試驗箱詳細參數：

測試設備可選擇的沖擊溫度有：A： -40℃～150℃； B：-55℃～150℃；C：-65℃～150℃

高溫儲存槽溫度范圍：RT~180℃或RT~200℃

低溫儲存槽溫度范圍：RT～-55℃；RT～-65℃；RT～-75℃（根據測試溫度而定）

高溫儲存槽升溫時間：RT-200℃約需30分鐘

降溫時間：

RT～-75℃約需40分鐘（根據尺寸大小跟實際測試溫度有影響）

冷熱沖擊測試可設定時間:0.1～999.9小時,循環周期1～9999可設定.

沖擊恢復時間：

高溫(80℃)沖擊30分鐘,低溫(-40℃)沖擊30分鐘;沖擊恢復時間:5分鐘以內.

結構材質：

整臺測試設備為進口SUS上等304不銹鋼板霧面處理（個別客戶有選擇鋼板烤漆加色處理），內箱均為進口SUS#304不銹鋼,配件：測試孔(φ50×1只)，試料架(2組)。

冷凍系統：

復疊水冷式歐美原裝進口法國泰康全封閉或德國比澤爾半密閉式壓縮機組.此品牌壓縮機始終以質量高，耗電低，使用壽命長，運行穩定而立不敗之地。

控制器：

愛佩自主研發的7英寸超大觸摸AP-900智能可程式溫濕度控制器

冷熱沖擊測試設備必配的安全保護裝置：超壓、加熱干燒無熔絲過載保護器，壓縮機過熱、過流、、箱內超溫警報系統.

半導體環境試驗箱：整機質保一年，控制器以及壓縮機質保兩年。