DAL,XDVM菲希爾（FISCHER）膜厚儀,XRF鍍層厚度分
析儀配創新的X射線光學系統,專門測量極小的面積.
電動測量臺,高能量解像半導體接收器,四個電動準
直器.自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸
防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞。
可適用于各種樣品，從較厚的樣品（機械零部件）
之大型線路板（PCB）及電子元器件等 符合標準DIN
ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，
配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常
低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯
到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單
一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元
合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 三元
合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 雙鍍層：例如
Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等
等。 雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如
Cr/NiCu/Plastic；Fe。 菲希爾XUL（M）膜厚儀應
用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓
客戶滿意是我們錦霖公司始終的目標.
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