XDAL,XDVM菲希爾（FISCHER）膜厚儀,XRF鍍層厚度分析儀配創新的X射線光學系統,專門測量極小的面積.電動測量臺,高能量解像半導體接收器,四個電動準直器.自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞。可適用于各種樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等 符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。