SMT產業自動光學檢測設備AOI檢測系統分析方法

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品牌：	邁瑞自動化
重量：	520kg
單價：	100.00元/臺
起訂：	1 臺
供貨總量：	999 臺
發貨期限：	自買家付款之日起 3 天內發貨
所在地：	廣東
有效期至：	長期有效
最后更新：	2017-10-30 15:52

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深圳市邁瑞自動化設備有限公司
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產品詳細說明

SMT產業自動光學檢測設備AOI檢測系統分析方法

SMT產業自動光學檢測設備的量測系統分析方法

隨著SMT產業對產品質量的要求不斷提高，PCBA采用人工目測方式已不能滿足需求，因此自動光學檢測(Automated OpticalInspection，AOI)設備的選用也越來越重要。目前AOI主要的評估方法是取一個批量的PCBA，進行合格或不合格的判定，再統計其誤判率及漏檢率作為選型依據。但是這樣無法了解AOI的各種算法對各種不合格現象的檢出能力。另外，一片PCBA可能同時存在多個缺陷，加上各種缺陷對于產品的質量影響并不相同。因此單純計算誤判率及漏檢率，無法達成有效的AOI選型。本研究以AOI的量測系統分析(Measurement SystemAnalysis，MSA)為例，采取TS16949MSA 4th計數型儀器之Kappa風險分析法(Kappa risk analysis)進行自動光學檢測設備的評估。將各種零件及不合格現象分類，獨立進行量測系統分析，可避免各種零件及不合格現象發生統計學上的交互作用。使評估結果能分別體現AOI對于缺件(Missing parts)、短路(Short)、空焊(Missing solder)、溢膠(Excessive glue)、極性反(wrong polarity)、零件偏移(Parts shift)、立碑(Tomb stone)等不合格現象之檢出能力。為驗證TS16949 MSA 4th計數型(Attribute)儀器之Kappa風險分析法在AOI設備的適用性，本研究取個案企業之四家AOI廠商相同等級的機型，在個案企業實地對這五款AOI進行量測系統分析。計算各種不合格現象的Fleiss’s Kappa系數及假設檢驗百分比，分析AOI對各種零件及不合格現象的檢測能力，作為AOI選型的依據。

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SMT產業自動光學檢測設備AOI檢測系統分析方法

SMT產業自動光學檢測設備AOI檢測系統分析方法

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