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公司基本資料信息
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產品應用:
DC、RF、mmW測試
納米級電子器件測試,微機電測試
高功率測試
產品特點:
SP 系列是專為亞微米級分析測試而研發的探針臺,包含6/8/12英寸三個不同型號,可應用于I-V/C-V測試、RF測試、mmW(毫米波/微波)測試、T-Hz測試、失效分析、晶圓或器件的特性測量、MEMS(微機電)等等的分析測試中。
SP 系列低重心的結構設計,確保了臺體在高精度測試下的穩定性。載物臺移動基座采用高精度絲桿傳動,配合高精度交叉滾柱導軌和直線導軌進行導向,實現了載物臺亞微米級的空間定位精度;同時,一體化的探針座放置平臺,配合高剛性的支撐機構,整體的垂直應力形變在5μm/10N以內,保證了測試探針的穩定性。顯微鏡的龍門支架及同軸移動基座,讓顯微鏡定位操作更加快速方便,同時還保持了超高的穩定性,為亞微米級的空間定位精度提供了穩定的光學支持。
SP系列結構設計緊湊,如顯微鏡的同軸調節機構,載物臺的真空驅動開關及快速拖出功能等,有效地提高了用戶的操作效率。載物臺Z軸細調行程為13mm,配合平臺板Z軸行程45mm,使SP系列可適用于更多不同的測試配置和樣片,滿
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技術指標 |
足更多的分析應用需求。
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載物臺(常規晶圓載物臺) |
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尺寸 |
6"(152.4mm),可選更大尺寸,如8"或12" |
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材質 |
不銹鋼 |
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平整度 |
≤±2.5μm |
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真空區域* |
0,2",4",6"環形吸附** |
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真空控制 |
手動控制,獨立真空區域 |
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真空驅動方式 |
真空泵 |
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載物臺電性能 |
載物臺信號導通,可選擇接地或接信號 |
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*根據載物臺尺寸有所不同,如載物臺尺寸為12",則真空吸附區域為0,2",4",6",8",12"。 ** 除環形吸附外,還可選微孔吸附式載物臺,以適用于厚度在50μm或以內的晶圓。 |
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載物臺移動基座 |
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X-Y軸行程范圍* |
6"*6"(152.4mm*152.4mm),可選更大行程 |
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精度 |
1μm |
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R軸粗調角度范圍 |
360° |
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R軸細調角度范圍 |
±9° |
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微調精度 |
0.0001°/deg |
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Z軸細調行程范圍 |
13mm |
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細調精度 |
1μm |
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Z軸快升行程 |
0~6mm, 可調 |
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Z軸往復精度 |
<1μm |
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*根據載物臺尺寸不同,行程有所不同,如載物臺為12",則X-Y移動行程為12"*12"。 |
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探針座放置平臺 |
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材質 |
鋼,表面沉鎳處理 |
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平臺板尺寸* |
可放置8個CM50或4個RF50探針座 |
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平臺板至載物臺高度 |
1.496”(38mm) (該參數待定) |
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探針座兼容性 |
可兼容磁力或真空吸附底座的探針座 |
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Z軸細調行程范圍 |
45mm |
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Z軸快升行程 |
350μm (該參數待定) |
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Z軸往復精度 |
<1μm |
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*此處為6"探針臺可放置的探針座數量 ,更大尺寸探針臺詳詢客服人員。 |
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顯微鏡移動基座 |
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X-Y軸行程范圍 |
2"*2"(50mm* 50mm) |
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X-Y軸精度 |
1μm |
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調焦行程 |
2"(50mm) |
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精度 |
1μm |
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Z軸粗調行程 |
100mm |
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氣動升降行程 |
40mm |
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光學系統 |
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類型 |
金相顯微鏡,可選單筒顯微鏡 |
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光學放大倍數* |
20X-2000X |
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* 根據所選物鏡或顯微鏡放大倍數不同會有不同的光學放大倍數,詳細請咨詢客服人員。 |
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加熱載物臺(可選項) |
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尺寸 |
6"(152.4mm),可選更大尺寸,如8"或12" |
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溫度范圍 |
室溫~300℃ |
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溫控精度* |
0.5℃(典型值) |
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溫度均勻性 |
0.5℃@6"載物臺 |
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加熱時間 |
<6min(室溫~300℃) |
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標準配置的加熱臺為自然冷卻,可選風冷或水冷套件。 |
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RF載物臺(可選項) |
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尺寸 |
6"(152.4mm),可選更大尺寸,如8"或12" |
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校準片載物臺 |
2個(獨立真空控制) |
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尺寸 |
配套CS-5等尺寸的校準片 |
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校準片載物臺角度調節范圍 |
7° |
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材質 |
不銹鋼 |
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平整度 |
≤±2.5μm |
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真空驅動方式 |
真空泵 |
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其它擴展配件(可選項) |
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探針卡夾具 |
可根據探針卡尺寸定制,應用于多點或自動測試 |
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激光器 |
1064nm,532nm,355nm,三個波段自由配置,對芯片線路進行切割修改。 |
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半自動控制系統 |
實現晶圓小批量半自動測試需求 |
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設備環境要求 |
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電源 |
220V±10% |
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真空 |
-8bar |
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壓縮空氣 |
0.6MPa |