博曼X-RAY鍍層膜厚儀是利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。
Bowman是結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
博曼（Bowman）X-RAY膜厚儀提供：
（1）無損分析：無需樣品制備
（2）經(jīng)行業(yè)認證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來收益
（3）操作簡單，只需要簡單的培訓(xùn)
（4）分析只需三步驟
（5）杰出的分析準確性和精確性
（6）在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗
（7）使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質(zhì)量的同時降低成本。
博曼（Bowman）X-RAY鍍層膜厚儀可分析的樣品種類繁多，包括固體、液體、粉末、糊狀物、薄膜等，檢測從ppm級至高達百分含量的濃度范圍，覆蓋元素周期表中從AL13到U92間的元素。
它的優(yōu)勢有高性能、高精度、長期穩(wěn)定性：快速精確的分析帶來生產(chǎn)成本最優(yōu)化，精確測定元素厚度，優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量.堅固耐用的設(shè)計：可靠近生產(chǎn)線或在實驗室操作
，生產(chǎn)人員易于使用.簡單的校準調(diào)試：在沒有標準片時，經(jīng)驗系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結(jié)果，方法建立只需幾分鐘，我們提供認證標準片以確保最佳精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025），預(yù)置了多種校準參數(shù).
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