基本功能：SZT-C型四探針測試臺，是用來裝夾四探針探頭，連接四探針測試儀器，放置樣品，進行手動方式測試的機具。是四探針法測試電阻率/方塊電阻（方阻）儀器的配套測量裝置（以下簡稱測試臺）。

基本組成：主要有載物臺(180mmX180mm凈載物面積)、雙軌垂直導向單元、測試壓力調節單元、探頭快速升降扳手(頂部戴紅套部分)、探頭連接板等單元。

配套與兼容：本測試臺可選配本公司所有型號的四探針測試探頭，包括鎢針四探針探頭（測試硬質樣品用），鍍金合金探頭（測試柔性薄膜或涂層方阻專用）；本測試臺兼容本公司所有四探針測試儀器。本測試臺加配本公司探頭，可兼容國內同行絕大多數四探針電阻率/方阻測試儀器。

二、可測半導體材料尺寸  （探頭手持方式不限）

直徑或邊長:SZT-C測試臺直接測試方式 Φ15～180mm，或180mm×180mm。

長(或高)度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

測量方位： 軸向、徑向均可

三 、使用方法

3.1 放置樣品：將測試臺上部操作扳手向上向后、向上升起測試臺探頭，如圖2.1，將樣品放在探頭下方測試臺板上，然后將測試臺上部操作扳手向前向下，壓下探頭。

3.2壓力調整：在探頭壓下的狀態下，可根據樣品厚度及壓力要求，調節測試臺導軌支架中部螺桿上的螺母（先松開鎖緊螺帽），觀察探頭探針壓下程度，調節測試壓力！（彈簧壓縮量0～20mm,對應探頭壓力0～2.0K公斤），調好后，鎖緊鎖緊螺帽。

對于ST2253-F01鎢針探頭，探頭探針探針縮進量0～4mm,對應探頭壓力0～2.0K公斤

對于ST2558B-F01薄膜方阻探頭，探頭探針探針縮進量0～4mm,對應探頭壓力0～400克！                               

調好后，松開手，壓力會自動保持。

3.3  測好后，抬起探頭，移動樣片或移開！